1. 目的
このガイドラインは、「電気設備（品質管理）令、2020」及びその後の改正に基づき、上記製品のライセンス付与または範囲変更を行う目的で使用されます。手順はインド標準局（BIS）が定義するとおりです。

2. ライセンス申請
製造業者は、BISからライセンスを取得または範囲を変更するため、以下のものを含む技術ファイルをBISに申請しなければなりません。

• 試験報告書／証明書

• 製品シリーズ／範囲またはグループに関して、規定の最小サンプル数を満たしていることの確認

3. 製品グループ分け

• 製品シリーズ：開閉装置や制御装置の制御、信号、インターロックなどを目的とした、電気機械式制御回路用機器または開閉要素のグループを指します。

• これは、IS/IEC 60947-5-1: 2016 の箇条 4.2.1 及び 4.2.2 で定義され、附属書Iの表Aに記載された分類における特徴の組み合わせに基づく、特定の型式指定を指します。

4. サンプリングと試験

4.1 基本方針

• 各製品シリーズに対して型式試験が実施されます。

• 試験は、全ての動作性能基準を満たす最大の機能と構成を持つサンプルで行わなければなりません。

• 試験及びサンプルは、IS/IEC 60947-5-1: 2016 の箇条 8.3.1 に従う必要があります。

4.2 試験の実施方法

• 型式試験は複数の「試験シーケンス」にグループ化されています。各シーケンスで定義された順序と適用性に従って試験が実施されます。

• 製造業者の要求により、複数の試験シーケンスを1つのサンプルで実施することができます。

• 備品、付属品、サブアセンブリは製品の一部であり、可能な限り機器と一緒に試験されます。他の規格（IS/IEC 60947シリーズ）に適合する付属品は、該当するインド規格の要求も満たさなければなりません。

4.3 試験範囲の簡素化

• 全ての製品の定格／種類を個別に試験する必要はありません。試験済みのサンプルは、同等またはそれ以下の定格を持つ全ての製品の定格／種類をカバーします。

4.4 簡略化された試験手順（多重試験の削減策）
a) 試験シーケンス I: 類似構造の開閉要素で複数の構成が可能な制御回路用機器の場合、開閉要素の数が最大可能なサンプルを試験すれば、他の全ての構成をカバーします。
b) その他の試験シーケンス（通電遮断容量試験、短絡試験）: 単極要素または多極装置の1極で試験可（全ての極の構造と動作が同一の場合）。
c) 複数の使用カテゴリ: 最も過酷な条件でのより高い使用カテゴリについて試験します。ACとDCの両方の使用カテゴリがある場合は、別々に試験します。
d) 周波数: 50Hzでの試験は60Hzを、その逆もカバーします。
e) 複数の定格: 単一使用カテゴリで複数の定格電圧(Ue)・電流(Ie)がある場合、VA (Ue x Ie) が最も高い定格で通電遮断容量試験を実施します。
f) 異なる端子設計: 異なる端子設計がある場合は、試験シーケンス I に沿った追加試験を、 clearance 及び creepage distance の測定とともに実施します。
g) 表示灯及び表示タワー: 最高定格電力のサンプルで実施した型式試験は、それ以下の定格電力の全ての他の定格／種類をカバーします。

4.5 試験の省略

• 附属書IIの表Bに記載されている場合、全ての型式試験は必須ではありません。該当する場合は、選択された特定の試験のみが実施されます。

附属書I
表A. 電気機械式制御回路用機器の分類

例:

• 製品シリーズ1: 手動制御スイッチ – 押しボタン – XXXX（型式指定）、形式X & Y、空気遮断式、手動操作、非自動制御、IP54、使用カテゴリ: AC-12, AC-15, DC-12, DC-13

• 製品シリーズ2: 電磁操作制御スイッチ – 接触器リレー – XXXX（型式指定）、形式Zb、空気遮断式、電磁操作、非自動制御、IP20、使用カテゴリ: AC-12, AC-15, DC-12, DC-13

附属書II
表B. 追加の完全な型式試験なしでライセンス範囲に追加できる電気機械式制御回路用機器